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凌华科技将举办2008年量测与自动化技术国际高峰研讨会

#nbsp;#nbsp; 凌华科技致力于量测、自动化及计算机通讯科技之改进及创新,提供解决方案给全球网络电信、智能交通及电子制造客户。2008年量测与自动化技术国际高峰研讨会”,将于4月22日和4月25日分别在北京和上海举行。
#nbsp; #nbsp;由产业计算机应用平台及亚洲最大的数据采集与PXI平台产品供货商——凌华科技(ADLINK Technology)主办,汇集安捷伦科技、东芝泰力株式会社、日本CCS株式会社、艾法斯亚洲有限公司和北京领邦仪器技术有限责任公司等,众多国际知名厂商的“ADLINK DAY:2008年量测与自动化技术国际高峰研讨会”,将于4月22日和4月25日分别在北京和上海举行。此研讨会将专注于量测与自动化技术的产业发展与应用探讨,以“技术驱动产业未来”为主题。请至凌华科技网站,浏览活动报名方式,名额有限,额满为止。
#nbsp; #nbsp;凌华科技董事长刘钧表示:“凌华举办ADLINK#nbsp; DAY的目的,不仅是凌华的品牌活动,更通过汇集国际知名厂商,为量测与自动化产业的发展提供趋势导向和技术分享。通过先进的量测与自动化技术的应用介绍,顺应中国产业结构调整和产业升级的大趋势,为国内量测和自动化领域的用户提供先进的应用解决方案。”
#nbsp;#nbsp; ADLINK DAY将采取主题演讲和分场研讨两种形式。在上午的主题演讲环节,来自凌华科技、安捷伦科技和东芝泰力的高层,将分别带来“新一代量测自动化计算机与接口的发展新趋势”、“数字工业相机的趋势与技术介绍”和“如何利用安捷伦USB模块化仪器小型化您的测试系统”的演讲,分享量测与自动化产业在未来的发展趋势。下午时段的分场研讨将聚焦“军工测试系统”、“电子制造装备中的检测应用”和“手机相关信号测试及应用”三个不同的主题,凌华科技、安捷伦、艾法斯、CCS、领邦仪器将以实际的应用案例阐释最新的量测与自动化技术。
#nbsp;#nbsp; 除了精彩的演讲,来自众厂商的最新产品和解决方案将同时亮相,与会者可现场体验包括PXI量测平台、数据采集卡和图像采集卡、工业相机以及CompactPCI平台和Computer-On-Mofule模块化计算机等产品和实物演示的各种应用场景。同时,来自凌华科技新品,包括适用于机器视觉应用的高速数字图像采集卡PCIe-FIW62和用于混合型测试系统,提供各种接口控制或整合不同的独立仪器接口的PXI-3910/3920等产品将在现场精彩发布。
#nbsp;#nbsp; 据悉,ADLINK DAY是凌华科技在今年主办的重量级活动之一。此次技术论坛活动邀请众多国际知名厂商共襄盛举,为面临产业升级的量测与自动化厂商提供最新的技术与趋势发展介绍。